一、溫濕度振動(dòng)綜合試驗(yàn)箱是各類電子、電工、半導(dǎo)體通訊、LED、計(jì)算機(jī)、汽車配件、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐濕、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測(cè)試設(shè)備；高低溫濕熱老化試驗(yàn)箱特別適用于LED光電、LED照明、光纖、LCD、液晶屏、晶體、電感、PCB電路板、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗(yàn)。
 

二、溫濕度振動(dòng)綜合試驗(yàn)箱執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)以及滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：

1. GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

2. GB/T2423.3-2008(IEC68-2-3)    試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法

3. GJB150.9A-2009                濕熱試驗(yàn)方法 

4.G/BT 2423.4-2008/IEC6008-2-30:2005試驗(yàn)Db:交變濕熱方法

5.GB/T5170.18-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備

三、溫濕度振動(dòng)三綜合試驗(yàn)箱主要技術(shù)參數(shù):